TO老化測試

普賽斯針對TO老化測試分選有完備的測試方案，完美的支持發端DFB/TEC-DFB/EML TO的老化測試分選，需要老化的APD端的老化測試分選以及不需要老化的PIN-TIA測試分選。能夠實現全流程的效率匹配以及數據庫統一，極大的減少了員工數量要求以及設備數據庫，網絡維護的要求。能夠有效的提升TO生產的效率和可靠性。具體的生產方案如下。

LD TO老化測試分選解決方案

APD-TIA TO老化測試分選解決方案

PIN-TIA TO測試分選方案

方案特點

1. LD/APD盤測機和LD/APD老化設備，老化板相互兼容。整個過程不需要重新插拔物料

2. LD盤測機和LD老化設備，均支持軟件任意封裝的引腳切換。能夠實現一個老化板，兼容多種不同封裝的TO，節省老化板的費用

3. LD盤測設備，支持高溫測試，有效滿足25G工業級TO的測試要求

4. LD/APD老化設備最高支持3072 PCS老化規模

5. 老化和測試系統都具備完備的數據管理系統，支持本地數據庫，遠程SQL數據庫。數據庫之間數據相互關聯，能夠有效支持后端自動分選工藝數據要求

6. PIN-TIA測試分選一體機專門針對不做老化的PIN-TIA器件，支持封帽料盒以及輸出塑料收納盒。直接完成封帽到出貨之間的所有工藝流程。極大提高效率和生產自動化水平

方案詳情

測試方案	設備名稱	型號	設備特點
LD老化測試	TO56盤測機	PSS PAT-56-D	支持任意引腳封裝，軟件切換腳位支持本地與遠程SQL數據庫支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試豐富各種算法支持（Ith,KINK,Linearity）
	TO56高溫盤測機	PSS PAT-56-H1	支持任意引腳封裝，軟件切換腳位支持本地與遠程SQL數據庫支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試豐富各種算法支持（Ith,KINK,Linearity）支持常溫和高溫測試（RT+20~95°C）
	EML TO盤測機	PSS PAT-56-EML	支持DFB/EML/SOA-EML/TEC-DFB TO測試支持任意引腳封裝，軟件切換腳位支持本地與遠程SQL數據庫支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試豐富各種算法支持（Ith,KINK,Linearity）支持ACR/焦距測試
	LD集成式老化系統	PSS LDBI3002	支持3072老化規模，最高支持250mA電流支持任意引腳封裝，軟件切換腳位支持本地與遠程SQL數據庫支持實時LD電壓，Im讀取功能支持Ith（背光）測試功能，可提供多次對比測試結果以及合格判定條件設置支持MES系統接口
APD老化測試	TO46盤測試機	PSS PAT-46-D	支持APD/PIN-TIA器件，任意引腳封裝，軟件切換腳位支持本地與遠程SQL數據庫支持APD/PIN Idark測試支持調制光模式下D+/D-的動態波形測試
APD老化測試	APD集成式集成式老化系統	PSS APDBI3001	支持3072老化規模，APD老化電流最高可到2mA 支持任意引腳封裝，軟件切換腳位支持本地與遠程SQL數據庫支持實時APD電壓，TIA電流讀取功能支持MES系統接口
PIN-TIA測試分選	探測機組件測試分選一體機	PSS RTP2101	支持封帽料盒進料，塑料收納盒出料支持客戶自定義的分BIN篩選完善的圖像識別處理，有效識別管腳位置并分腳，插料支持PIN-TIA/APD-TIA各種測試指標，包括調制光模式下D+/D-的動態波形測試全自動，無人值守，UPH=550（典型值，需要測試RES耦光），UPH=800(典型值,不耦光)

TO老化測試

/cn/index_766.aspx