普賽斯Combo PON器件性能綜合測試系統是模擬了Combo PON器件實際復雜的應用環境，自動快速測試Combo PON器件2發2收近40多種性能參數的測試系統。一鍵完成1490nm 2.5G DFB器件發射和1577nm 10G EML器件發射的LIV綜合測試，1310nm和1270nm的APD器件或者PIN TIA器件的靈敏度和響應度測試，支持內部光路的隔離度和光串擾測試，全面評估Combo PON器件參數指標，真實反映器件的性能。整套系統方案還設計了配套的測試夾具。