為保證COC生產的良率，COC芯片在生產工藝過程中，需要經過老化篩選、芯片測試環節，普賽斯設計了老化系統和測試機，裝載芯片的夾具兼容在老化抽屜和測試機的使用，在老化和測試工藝過程中可避免重復上下料，一站式完成COC芯片的生產?？赏瑫r支持1280顆芯片的老化，提高生產產能。

       

方案框圖

COC芯片上料到夾具上，夾具放置在抽屜中，抽屜可插入單層老化箱中，多層老化箱可搭入機架，形成COC老化系統，實現對芯片的溫度和加電控制，并通過老化軟件實時監控老化數據。

老化之后的芯片，不需要從夾具上取下來，直接將夾具放到COC測試機上測試，COC測試機支持芯片的LIV掃描，通過測試軟件可控制光譜儀，實現光譜測試。

方案特點

1. 極易操作：上料采用導向槽操作，對于小尺寸產品上料簡單、容易、安全

2. 獨立的“抽屜式”：每個抽屜可適用于不同封裝的產品，只需要更換底部夾具，抽屜式設計確保整體溫度均勻性良好

3. EOS防護：采取緩加電、緩下電方式，做了各種異常上電、下電的防護，使老化測試過程的COC芯片安全

4. 異常電源保護：內置UPS，保證異常斷電時客戶chip的安全

5. 數據庫存儲：外置電腦，一套軟件監控一臺設備，過程數據存儲于本地或者服務器數據庫

6. 精準LIV測試：TEC精準控溫下支持chip的LIV快速測試以及光譜測試

方案詳情

方案配置主要由COC老化系統（PSS COC-BI-S-I）和測試機（PSS COCT2000）組成，老化系統由機架（PSS COCW2010）和單層老化箱（PSS COCL004）組成，夾具單獨配置，支持定制，可聯系銷售人員。

老化系統和測試機分別設計了上位機軟件，界面分別如下：

COC老化軟件界面可顯示10層*4抽屜的老化進度、老化溫度，點擊每個抽屜，可展開32顆芯片的老化電流、電壓、背光電流數據、閾值結果；軟件可記錄操作過程日志以及所發生的異常。

COC測試軟件支持定位每顆芯片位置，自動完成LIV掃描以及光譜測試，滿足溫度，掃描電流等參數的配置，支持本地或服務器存儲數據，方便分析。