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普賽斯巴條自動測試機用于LD巴條LIV曲線,光譜,背光自動測量。全自動上下料,支持多種規格料盒上料,支持多種規格料盒或藍膜下料。常溫、高溫雙溫測試,高溫測試溫度可由用戶自定。單或雙探針加電,測試NG chip采取打點標記,向用戶開放測量數據庫,用于后續篩分工序。
本產品適用探測器組件(無需做老化測試的PIN-TIA或者APD器件)的測試及下料分揀,可與封帽機無縫對接,采用其下料盒上料,實現插管腳、測試、分檔、下料至吸塑盒全過程,最終產出成品。
普賽斯誤碼儀系列產品100G、400G(支持FEC),搭配普賽斯通用儀表,如光功率計、光衰、光開關、消光比測試儀、時鐘恢復模塊等等設備,用于多種模塊器件級別測試的方案,包括自環測試和并行測試、串行測試,廣泛應用于各類使用場景。
普賽斯針對TO老化 測試分選有完備的測試方案,完美的支持發端DFB/TEC-DFB/EML TO的老化測試分選,需要老化的APD端的老化測試分選以及不需要老化的PIN-TIA測試分選。能夠實現全流程的效率匹配以及數據庫統一,極大的減少了員工數量要求以及設備數據庫,網絡維護的要求。能夠有效的提升TO生產的效率和可靠性。具體的生產方案如下。
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